柔性電子折疊測試是評估柔性電子器件（如可折疊手機屏幕、柔性傳感器、電子皮膚等）在反復(fù)彎折、卷曲、扭曲等形變下的機械耐久性和電學(xué)穩(wěn)定性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。其目的是模擬實際使用場景，預(yù)測器件壽命，并指導(dǎo)設(shè)計和材料優(yōu)化。下面由深圳市普云電子有限公司小編針對這點來給大家具體講解下吧。

以下是柔性電子折疊測試的核心內(nèi)容和要點：

一、 測試目的

1. 評估機械耐久性： 測試基板、導(dǎo)體（金屬線路、透明電極）、絕緣層、封裝層、活性材料（如OLED、晶體管）等在反復(fù)應(yīng)力/應(yīng)變作用下的抗疲勞、抗斷裂、抗分層能力。

2. 評估電學(xué)穩(wěn)定性： 監(jiān)測在折疊過程中及折疊循環(huán)后，關(guān)鍵電學(xué)參數(shù)（電阻、電容、電流、電壓、發(fā)光亮度/效率、開關(guān)比、遷移率等）的變化，判斷功能是否失效或性能是否退化。

3. 識別失效模式： 分析器件在折疊過程中出現(xiàn)的典型失效模式（如裂紋、分層、導(dǎo)線斷裂、電極脫落、封裝失效、活性層退化等）及其發(fā)生機制。

4. 驗證設(shè)計可靠性： 為器件結(jié)構(gòu)設(shè)計、材料選擇（基板、粘合劑、導(dǎo)電材料、封裝材料）、工藝優(yōu)化提供實驗依據(jù)。

5. 預(yù)測使用壽命： 通過加速壽命測試，推斷器件在實際使用條件下的預(yù)期壽命。

6. 建立標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范： 為行業(yè)制定統(tǒng)一的測試方法和評判標(biāo)準(zhǔn)提供基礎(chǔ)。

二、 主要測試方法與設(shè)備

1. 動態(tài)折疊測試 (Dynamic Folding Test):

• 設(shè)備： 專用PY-H608D柔性電子材料動態(tài)彎折/折疊測試機。

• 原理： 將樣品兩端固定，在中間區(qū)域施加周期性、受控的彎曲或折疊動作（如0°-180°往復(fù)折疊）。

• 關(guān)鍵參數(shù)控制：

• 彎曲半徑 (Bend Radius - R): 最關(guān)鍵的參數(shù)，決定了樣品彎曲處的最大應(yīng)變。半徑越小，應(yīng)變越大，對器件挑戰(zhàn)越大。通常用毫米或曲率表示。測試時需精確控制中性軸位置。

• 折疊角度 (Fold Angle)： 如從展開到折疊（180°），或部分折疊（如90°、135°）。

• 折疊速度/頻率： 單位時間內(nèi)的折疊次數(shù)（Hz）。高速測試用于加速壽命評估，但需注意可能引入與實際使用不符的動力學(xué)效應(yīng)。

• 循環(huán)次數(shù)： 需要達(dá)到的目標(biāo)折疊次數(shù)（如數(shù)萬次、數(shù)十萬次甚至百萬次）。

• 測試環(huán)境： 溫度、濕度（如85°C/85%RH 高加速應(yīng)力測試）。

• 監(jiān)測： 通常需要在測試過程中（在線）或定期中斷測試（離線）測量電學(xué)性能。

2. 靜態(tài)彎曲測試 (Static Bend Test):

• 設(shè)備： 夾具、彎折棒、卷繞棒。

• 原理： 將樣品彎曲或卷繞到特定的固定曲率半徑上，并保持該狀態(tài)一段時間（如24小時、1000小時）。

• 目的： 評估器件在長期固定彎曲狀態(tài)（如穿戴設(shè)備貼合身體）下的機械和電學(xué)穩(wěn)定性（蠕變、應(yīng)力松弛、材料老化等）。

• 監(jiān)測： 在彎曲前、彎曲保持過程中（可選）、彎曲釋放后測量電學(xué)性能。

3. 卷曲測試 (Rolling Test):

• 設(shè)備： 卷繞設(shè)備。

• 原理： 將樣品在圓柱體（如卷軸）上反復(fù)卷繞和展開。

• 目的： 模擬柔性顯示器卷曲收納或可卷曲電視等應(yīng)用場景。

• 關(guān)鍵參數(shù)： 卷繞半徑、卷繞速度、循環(huán)次數(shù)。

4. 扭曲測試 (Twist Test):

• 設(shè)備： 專用扭曲測試機或夾具。

• 原理： 在樣品上施加扭轉(zhuǎn)應(yīng)力。

• 目的： 評估器件抵抗復(fù)雜三維形變（如穿戴設(shè)備活動時）的能力。

  
  

三、 關(guān)鍵測試參數(shù)與監(jiān)控

1. 機械參數(shù)：

• 彎曲半徑 (R)

• 折疊角度

• 循環(huán)次數(shù)

• 應(yīng)變 (ε) - 通常由彎曲半徑和器件厚度計算得出（ε = thickness       / (2 * R)）。

• 應(yīng)力 (σ) - 與材料模量和應(yīng)變相關(guān)。

2. 電學(xué)參數(shù) (需根據(jù)具體器件類型選擇)：

• 導(dǎo)體： 電阻變化率。

• 晶體管： 閾值電壓漂移、開關(guān)比變化、遷移率變化、漏電流。

• 顯示器 (OLED, LCD)： 亮度、均勻性、色度、壞點/線、驅(qū)動電流/電壓。

• 傳感器： 靈敏度、基線漂移、響應(yīng)時間。

• 電池： 容量、內(nèi)阻、充放電曲線。

• 互連/接觸電阻： 關(guān)鍵連接點的電阻。

3. 失效判據(jù)：

• 機械失效： 肉眼可見裂紋、分層、斷裂；顯微鏡（光學(xué)、電子顯微鏡）觀察到的微觀損傷。

• 電學(xué)失效： 關(guān)鍵電學(xué)參數(shù)超出允許范圍（如電阻增加超過50%，亮度衰減超過30%，器件功能喪失）。

  
  

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四、 失效模式分析

• 基板： 裂紋、塑性變形、蠕變。

• 導(dǎo)體 (金屬/ITO/納米線/石墨烯等)： 微裂紋擴展導(dǎo)致電阻陡增、疲勞斷裂、界面剝離、電遷移。

• 介電/絕緣層： 裂紋導(dǎo)致短路、漏電增加、分層。

• 有源層 (OLED材料, 半導(dǎo)體層)： 機械損傷導(dǎo)致功能退化（亮度下降、效率降低、遷移率變化）、分層。

• 封裝層： 裂紋導(dǎo)致水汽/氧氣侵入（加速器件退化）、分層。

• 粘合界面： 分層是柔性電子最常見的失效模式之一，發(fā)生在不同材料層之間，嚴(yán)重影響機械完整性和電學(xué)性能。

• 互連/焊點： 斷裂、接觸失效。

  
  

五、 測試標(biāo)準(zhǔn)與挑戰(zhàn)

• 標(biāo)準(zhǔn)： 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)正在快速發(fā)展中（如IEC標(biāo)準(zhǔn)）。目前很多公司和研究機構(gòu)采用內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)或參考顯示面板廠（如三星、LG）的規(guī)范。

• 挑戰(zhàn)：

• 精確控制中性軸： 多層結(jié)構(gòu)器件的中性軸位置難以精確控制，導(dǎo)致不同層承受拉伸或壓縮應(yīng)變。

• 在線電學(xué)監(jiān)測： 在動態(tài)折疊過程中實時、無損、可靠地測量電學(xué)參數(shù)具有技術(shù)難度。

• 加速測試相關(guān)性： 如何建立加速測試條件（高頻率、大應(yīng)變、模擬氣候環(huán)境）與實際使用場景下失效機制和壽命的準(zhǔn)確對應(yīng)關(guān)系。

• 復(fù)雜應(yīng)力狀態(tài)： 實際使用中常伴隨彎曲、折疊、扭曲、拉伸的復(fù)合應(yīng)力，實驗室測試難以模擬。

• 樣品制備與夾持： 如何避免夾具引入額外應(yīng)力或損傷樣品邊緣。

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六、 建議與最佳實踐

1. 明確應(yīng)用場景： 根據(jù)目標(biāo)產(chǎn)品的實際使用方式（折疊半徑、頻率、角度、環(huán)境）設(shè)定測試條件。

2. 分層測試： 先測試關(guān)鍵材料和簡單結(jié)構(gòu)（如導(dǎo)線、TFT），再測試復(fù)雜模塊和整機。

3. 多參數(shù)監(jiān)控： 結(jié)合機械形貌觀察（顯微鏡、SEM）和電學(xué)性能測量，深入分析失效機理。

4. 對照實驗： 比較不同材料、結(jié)構(gòu)設(shè)計、工藝條件下的測試結(jié)果，指導(dǎo)優(yōu)化。

5. 統(tǒng)計分析： 測試足夠數(shù)量的樣品，進(jìn)行統(tǒng)計分析以獲得可靠結(jié)論。

6. 關(guān)注界面： 界面問題是柔性電子失效的核心，測試設(shè)計和分析應(yīng)重點關(guān)注層間結(jié)合力與可靠性。

7. 結(jié)合仿真： 利用有限元分析模擬折疊過程中的應(yīng)力/應(yīng)變分布，輔助測試設(shè)計和結(jié)果解讀。

   
   

總結(jié)

柔性電子折疊測試是確保產(chǎn)品可靠性的基石。它是一個涉及精密機械控制、多參數(shù)實時監(jiān)測、深入失效分析的綜合過程。通過精心設(shè)計測試方案（特別是精確控制彎曲半徑和循環(huán)次數(shù)），并結(jié)合嚴(yán)密的電學(xué)性能監(jiān)控和失效模式分析，可以有效評估柔性電子器件的耐久性，推動這一前沿技術(shù)的商業(yè)化應(yīng)用。理解“應(yīng)變是核心驅(qū)動力，界面是薄弱環(huán)節(jié)"是設(shè)計和解讀折疊測試的關(guān)鍵。